設備找測試
設備測試能力富余找客戶
我們可以幫您的設備對接開發(fā)業(yè)務,也可以給幫助客戶的樣品找測試設備

儀器型號
Helios 5 CX DualBeam
供應產(chǎn)商
美國Thermo-Scientific
應用工況
半導體材料缺陷表征、器件失效分析和微納結構設計

儀器型號
Regulus8100和SU8600
供應產(chǎn)商
Hitachi
應用工況
半導體、MEMS器件、生物、材料、能源、金屬、陶瓷等各類樣品的微觀形貌測試和微區(qū)元素分析

儀器型號
IM4000PLUSⅡ和E-3500離子研磨
供應產(chǎn)商
Hitachi
應用工況
掃描電鏡觀察(SEM)和表面分析(EDX,EBSP等)的前處理

儀器型號
Nicolet iN10和Nicolet iS50FT-IR
供應產(chǎn)商
美國Thermo-Scientific
應用工況
污染物鑒別,失效分析,競爭分析,過程支持

儀器型號
共聚焦拉曼光譜儀
供應產(chǎn)商
蘇州惟光探真科技有限公司
應用工況
半導體、材料、新能源、刑偵、食品等領域樣品中組分、應力、晶化率等物理性質的分布

儀器型號
K-Alpha X 射線光電子能譜儀(XPS)系統(tǒng)
供應產(chǎn)商
美國Thermo-Scientific
應用工況
超導、拓撲絕緣體、化合物半導體、半導體、催化、生物,材料等領域材料表面元素組成分析
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